Наши проекты

Реализованные проекты (продукция)


  1. Универсальное программное обеспечение для систем автоматизированного тестирования - АтоМ-АТЕ.

  2. Щит измерения потребляемой мощности измеряет параметры тока, напряжения, мощности, cos φ, частоты тока - в трехфазной величине сети между звуком и потребителем.

  3. Система автоматического управления сортировкой древесины на базе SCADA TraceMode, WinPAC-8000, лазерного сканера Leuze

  4. Автоматический тестер измерения составляющих силовых полупроводниковых модулей Морион-2

  5. Система взвешивания и дозирования для бетоносмесительных узлов на базе терминалов Тензо-М ТВ-003/05

  6. Автоматизированный тестер для испытаний DC/DC конверторов АТИК;

  7. Автоматизированный тестер для испытаний транзисторных пар АТИТ;

  8. Автоматизированный тестер для испытаний большого количества электроалюминиевых ламп АТИДЭЛ-2;

  9. Автоматизированный тестер для испытаний компараторов и доступных пользователей АТИКОУ;

  10. Система аварийного тестирования твердотельных реле САИТР;

  11. Установка для воздействия на полупроводниковые пластины РОСА;

  12. Автоматизированный тестер для испытаний аудиоусилителей АТИАУДИО;

  13. Автоматизированный тестер для испытаний ШИМ-контроллеров АТИШИМ;

  14. Измерительный комплекс для проведения автоматических испытаний силового оборудования и преобразования частот 3 * 380 В (25-400 Гц) на токи 63А / 150А / 250А;

  15. Автоматизированный тестер для испытаний серии "Марс-Ф; МАРС;

  16. Комплекс для измерения параметров и проведения испытаний силовых полупроводниковых приборов (IGBT-транзисторов, диодов, модулей) АТМ-Морион;

  17. Комплекс технических средств АИИСКУЭ АТМ-Процесс;

  18. Система спутникового мониторинга АТМоСФЕРА на платформе Open GTS ;

  19. IbisMap — графический модуль для использования в картографических приложениях (FreeWare);

  20. Система автоматизации лесохозяйственного предприятия Ибис: Лесхоз 2.0

  21. Автоматизированная система технической обработки на базе сети ICP-8040, для счетчиков с импульсными телеметрическими выходами;

  22. Комплекс дистанционных измерений тока и напряжения для электропередачи высокого напряжения (35-110-750 кВ).

  23. Высоковольтный источник АТМ-ИВН-5/30/150 5-30 кВ 150 Вт, для установок электрогазоочистки

 


Автоматизация испытаний аналоговых микросхем


Потапов Л.А., Зотин В. Ф., Власов А. И.

 Автоматизация испытаний аналоговых микросхем
 
Рассмотрены возможные варианты автоматизированных испытаний аналоговых микросхем с помощью универсальных тестеров «Формула 2К» и оборудования PXI компании National Instruments, а также с помощью специализированного тестера TR9574 венгерской фирмы EMG. Дано описание разработанных авторами автоматизированных тестеров: АТИКОУ –   для испытаний компараторов и операционных усилителей и АТИАУДИО – для испытаний микросхем аудиоусилителей.
Ключевые слова:автоматизация испытаний, аналоговые микросхемы, тестеры, микросхемы аудиоусилителей, компараторов и операционных усилителей.
 
На различных этапах производства и применения аналоговых микросхем появляется необходимость определения основных параметров этих изделий и возникает вопрос о соответствующем контрольно-измерительном оборудовании [1].
Для автоматизации испытаний аналоговых микросхем можно использовать универсальный тестер «Формула 2К» [2], ориентированный, в основном, на испытании цифровых микросхем. Однако из-за универсальности он имеет сложную конструкцию, избыточные возможности и высокую цену. При этом любая аналоговая микросхема для проведения испытаний требует разработки и изготовления собственного адаптера. Даже похожие микросхемы с одинаковой цоколевкой и в одинаковом корпусе далеко не всегда можно испытывать на одном и том же адаптере. Например, в стандартной схеме измерения параметров операционных усилителей токоизмерительные резисторы для измерения входного тока ОУ 140УД7 должны быть 10 кОм, а для ОУ 140УД6 – 500 кОм. Кроме того измерение ряда специфических параметров аналоговых микросхем трудно выполнить на базе тестера «Формула 2К».
Иную автоматизированную модульную систему тестирования операционных усилителей можно создать (рис.1) на основе оборудования PXI компании National Instruments (NI) и программного обеспечения NI LabVIEW [3]. Для тестирования усилителя необходимо сгенерировать аналоговый сигнал модулем PXI arbitrary waveform generator, подать его на вход усилителя, а затем оцифровать данные на выходе осциллографом PXI digitizer и провести обработку результатов в приложении LabView, и, исходя из результатов, определить все необходимые характеристики. При помощи цифрового осциллографа становится возможным регистрация времени нарастания фронта импульса на выходе усилителя. Используя программное обеспечение NI TestStand, пользователь может автоматизировать измерения параметров ОУ, объединяя многочисленные режимы тестирования, созданные в NI LabView в единый программно-аппаратный измерительный комплекс, а также разработать удобный пользовательский интерфейс и автоматизировать создание отчетов проведенных испытаний.
 
Учитывая сложность подготовки программ испытаний и высокую стоимость модульной конструкции или универсального тестера «Формула 2К», во многих случаях оправдано применение специализированных тестеров.
Для параметрического контроля микросхем операционных усилителей, компараторов, стабилизаторов и повторителей напряжения можно использовать специализированный тестер TR9574 венгерской фирмы EMG. Тестер имеет в своем составе энергонезависимое ПЗУ со специализированным программным обеспечением, ОЗУ для ввода переменной части испытательной программы емкостью 4 Кбайта и ППЗУ емкость 32 Кбайта с библиотекой составленных пользователем программ измерений. Ввод новой программы измерений производится с помощью встроенной клавиатуры в диалоговом режиме на английском языке.
            Используя современную элементную базу, нами разработаны более компактные с расширенными возможностями автоматизированные тестеры АТИКОУ и АТИАУДИО. Тестер АТИКОУ используется для испытания компараторов и операционных усилителей, а тестер АТИАУДИО – для испытания микросхем аудиоусилителей.
Каждый тестер представляет собой переносной блок, выполненный в корпусе осциллографа С1-55 (рис. 2). Для работы к нему подсоединяется адаптер для соответствующей микросхемы, персональный компьютер, сортировщик или многозондовая установка (МЗУ). Тестеры могут работать в автономных режимах с индикацией результата тестирования по типу «брак-годен» и под управлением от ЭВМ с разбраковой по 6 группам и  передачей в ЭВМ всех результатов тестирования. При этом выполняется проверка контактирования всех выводов тестируемого изделия.
 Тестер обеспечивает контроль  входных токов, токов потребления от источников питания положительной и отрицательной полярности, тока утечки по выходу компаратора и выходного тока короткого замыкания (при сопротивлении нагрузки 1 Ом), а также максимального и минимального выходных напряжений операционного усилителя, остаточного выходного напряжения компаратора,  напряжения смещения и остаточного выходного напряжения ОУ.
Кроме этого, в соответствии с требованиями технических условий, он обеспечивает контроль  коэффициента усиления дифференциального напряжения, коэффициента ослабления синфазного сигнала в диапазоне, коэффициента влияния нестабильности источника питания на напряжение смещения, максимальной скорости нарастания (спада) выходного напряжения ОУ в режиме повторителя напряжения.
При этом за время порядка одной секунды под управлением микроконтроллера собирается более 10 электрических цепей, содержащих программируемые источники и измерители напряжений и токов, выполняются соответствующие измерения, сравниваются полученные результаты с эталонными и осуществляется разбраковка изделий по 6 группам.
Тестер АТИКОУ состоит из следующих функциональных узлов (рис. 3): контроллера (КТР), коммутатора (КММ), измерителя статических параметров (ИСП), источника напряжений питания (ИНП), стабилизаторов тока нагрузки (СТН), генератора ступени и источника входного напряжения –200 мВ (ГС), источника тока (ИТ), вторичного источника питания (ВИП).

Контроллер на базе однокристальной микро-ЭВМ реализует функции программного управления функциональными устройствами тестера автономно, или под управлением внешней ЭВМ. Модуль контроллера содержит также измеритель динамических параметров и устройства ЦАП и АЦП. Кроме того, контроллер обеспечивает синхронизм в работе тестера совместно с МЗУ или сортировщиком с помощью линий связи, подключаемых к разъему «Упр.сорт.».

Основное назначение коммутатора – сборка соответствующей схемы тестирования для контроля того или иного параметра, т.е. подключение источников сигналов, источников питания и измерительных устройств к соответствующим выводам ИС. Коммутатор реализует возможность тестирования одновременно четырех ОУ или компараторов. При этом два устройства (секции) подключаются к основному разъему «Тестир.» (37 контактов), а два других – к дополнительному (25 контактов). При тестировании одиночных или двухсекционных устройств дополнительный разъем не используется.
Коммутатор содержит узел проверки контакта выводов ИС с устройством подключения (зондами) путем поочередной подачи небольшого отрицательного напряжения (тока) на выводы ИС относительно подложки.
Измеритель статических параметров представляет собой четыре одинаковых схемы (по ГОСТ 23089) для формирования сигналов, пропорциональных напряжению смещения, входным токам, коэффициенту усиления дифференциального напряжения, коэффициенту ослабления синфазного напряжения и другим параметрам тестируемых ИС.
Источник напряжений питания формирует программируемые напряжения положительной и отрицательной полярности. Оба формирователя содержат встроенные измерители потребляемого тока. Кроме того, в состав этого модуля входят четыре одновременно программируемых источника положительного напряжения с соответствующими измерителями тока для контроля токов утечки выходных транзисторов в составе компараторов.
Модуль стабилизатора токов нагрузки включает четыре одновременно программируемых стабилизатора втекающего тока (для испытуемой ИС) и четыре одновременно программируемых стабилизатора вытекающего тока.
Генератор ступени формирует фронт или спад напряжения по команде контроллера с программируемыми начальным и установившимся уровнями (крутизна фронта и спада более 30В/мкс). Этот же модуль содержит источник входного (для тестируемой ИС) дифференциального напряжения 200 мВ.
Программируемый источник тока имеет два режима работы. При задании тока не более 0,2 А он может поддерживать его в нагрузке продолжительное время. При задании тока в диапазоне (0,2…2) А формируется импульс тока с заданной амплитудой длительностью 10 мс. В качестве нагрузки к источнику тока могут быть подключены выходные элементы первой и второй секции. Данный модуль предназначен, в основном, для тестирования ОУ средней мощности.
Модуль вторичного источника питания содержит два стабилизированных преобразователя напряжения. Один из них характеризуется выходными напряжениями –45 В, –15 В, +15 В и +45 В и служит исключительно для питания модуля ИНП. Другой с выходным напряжением +5 В используется для питания остальных модулей. При этом для гальванической развязки и получения необходимых уровней напряжения в составе этих модулей имеются субмодули на базе интегральных конвертеров.
Для контроля скорости нарастания (спада) выходного напряжения ОУ применены два «сверхбыстрых» компаратора с программируемыми порогами срабатывания и измеритель формируемого временного интервала с разрешением менее 50 нс на базе интегрального счетчика импульсов. Управление счетчиком и вычисление контролируемого параметра реализует микроконтроллер.
Адаптер, подключаемый к разъему «Тестир.», должен содержать дополнительные коммутационные элементы и согласующий резистор. Кроме того, в адаптере должны располагаться нагрузочные резисторы, соответствующие требуемому режиму тестирования. 
Программа тестирования микросхемы во всех режимах хранится в энергонезависимой памяти контроллера EEPROM во внутреннем коде и интерпретируется управляющей программой микроконтроллера.
В автономном режиме тестер выполняет программу тестирования, сравнивает результаты с нормами и индицирует результат сравнения на светодиодных индикаторах тестера БРАК, ГОДЕН, КОНТАКТ. Взаимодействие с МЗУ осуществляется по соответствующему протоколу. Данный режим устанавливается по умолчанию при включении тестера.
При работе под управлением ЭВМ реализуются следующие режимы тестирования: автономный с отображением результатов тестирования и измерения; потестовый с отображением результатов тестирования и пошаговый с отображением результатов тестирования и измерения. Все режимы выполняются с остановом или без останова по браку.
Для автоматизированного контроля параметров интегральных микросхем аудиоусилителей и разбраковки их в корпусах или на многозондовой установке разработан автоматизированный тестер АТИАУДИО. Конструктивно тестер представляет собой перенос ной блок (рис. 2), выполненный также как и тестер АТИКОУ в корпусе осциллографа С1-55. Для ИМС сдвоенных и счетверенных аудио-усилителей тестер позволяет контролировать ряд параметров в мостовом включении секций попарно. Тестер может управлять МЗУ и автоматическим сортировщиком с раскладкой ИМС не менее чем по 6 группам сортировки.
Тестер обеспечивает программирование норм разбраковки, состава выполняемых тестов и последовательности выполняемых тестов, при этом контролируя следующие параметры ИМС аудиоусилителей: средний ток потребления в режиме покоя, входное сопротивление, смещение выходных напряжений в режиме покоя для мостовой схемы включения аудиоусилителей, выходное напряжение шумов и  эффективное значение максимального выходного напряжения с заданным коэффициентом гармонических искажений.
Кроме этого, в соответствии с требованиями технических условий, он обеспечивает контроль разности параметров каналов усиления (для многоканальных усилителей), коэффициента усиления по напряжению, коэффициента разделения каналов, коэффициента подавления пульсаций напряжения источника питания и коэффициента гармоник кг выходного напряжения.
При определении коэффициента гармоник кг используется разложение выходного напряжения в ряд Фурье с помощью быстрого преобразованием Фурье и вычисление коэффициента гармоник кг в соответствии с уравнением
,
где    U1 …Uk –действующие значения гармоник напряжения, входящих в ряд Фурье.
Мощность, потребляемая АТИАУДИО (без управляющей ЭВМ), от сети переменного напряжения 220 В не более 30 ВА. Габаритные размеры тестера не более 120х270х350 мм. Масса тестера вместе с адаптером – не более 3 кг.
Автоматизированные тестеры АТИКОУ и АТИАУДИО  показали высокие эксплуатационные качества и существенное повышение производительности труда (по сравнению с известным тестером венгерского производства в несколько десятков раз). Время испытания по полной программе 4-х секционного операционного усилителя LM324 составляет  менее одной секунды.
Применение  узкоспециализированных тестеров позволило упростить их конструкцию, уменьшить габариты и вес, обеспечить измерение специфических параметров и существенно повысить производительность труда.
Тестеры АТИКОУ и АТИАУДИО используются на предприятии ЗАО «ГРУППА КРЕМНИЙ ЭЛ». Их целесообразно применять в условиях серийного производства и для организации входного контроля интегральных микросхем различных компараторов, операционных усилителей и аудиоусилителей.
 
Литература
 
 1. Берту. Ф. Контрольно-измерительное оборудование – какой форм-фактор выбрать?/Ф.Берту. – "Электроника: наука, технология, бизнес", 2013,   № 8, С. 148 – 150.
 2. www.form.ru/form/rar/doc/OTF2K,

Испытания интегральных микросхем ШИМ-контроллеров


А.И.Власов, В.Ф.Зотин, Л.А.Потапов

ПРОМЫШЛЕННЫЕ ИСПЫТАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ ШИМ-КОНТРОЛЛЕРОВ
 
Рассмотрены особенности промышленных испытаний микросхем ШИМ-контроллеров. Описаны конструкция и программное обеспечение разработанного тестера.
 
Ключевые слова: ШИМ-контроллер, тестер, промышленные испытания, интегральные микросхемы, источники напряжения, измерители временных интервалов.
 
Одним из подходов, позволяющих уменьшить потери на нагрев силовых элементов схем, является применение ключевых режимов работы транзисторов. При таких режимах силовой элемент либо открыт, тогда на нем практически нулевое падение напряжения, либо закрыт, тогда через него практически не идет ток. Изменяя ширину импульса при неизменной частоте импульсов, можно сформировать нужный закон изменения среднего значения напряжения или тока. Такая широтно-импульсная модуляция применяется обычно в импульсных источниках питания, стабилизаторах и преобразователях напряжения. Для обеспечения режима широтно-импульсной модуляции применяют интегральные микросхемы ШИМ-контроллеров, например 1156ЕУ2, UC2825, 1319ЕУ2, UCC39002 и др. Они организуют управление средним значением напряжения на нагрузке путём изменения скважности импульсов, управляющих ключом.
На рис. 1 представлена функциональная схема ШИМ-контроллера 1156ЕУ2 .
На приемно-сдаточных испытаниях в условиях производства и на входном контроле у потребителя возникает необходимость проверить соответствие выходных параметров ШИМ-контроллера паспортным значениям [1]. Таких параметров достаточно много. Нужно измерять временные интервалы от 10 нс до 20 мс; скорость нарастания выходного напряжения операционных усилителей от 1 В/мкс до 10 В/мкс; частоту следования импульсов от 20 до 500 кГц; размах пилообразного напряжения от 1 до 4 В; входное напряжение смещения операционных усилителей (усилителя ошибки и т. п.) от –20 до 20 мВ; входные токи операционных усилителей от – 4 до 4 мкА; коэффициент усиления операционных усилителей по напряжению от 54 до 120 дБ; коэффициент ослабления синфазного напряжения операционных усилителей от 75 до 150 дБ; коэффициент ослабления напряжения питания операционных усилителей от 54 до 120 дБ; частоту единичного усиления операционных усилителей от 0,1 до 10 МГц; постоянные напряжения от 0,2 до 20 В, постоянные токи от 2 до200 мА.
Большое количество выходных параметров и измерительных схем требует разработки специализированного тестера. Чтобы обеспечить высокую точность измерений всех параметров, требуется разработать соответствующие измерители временных интервалов, скорости нарастания выходного напряжения операционных усилителей, частоты следования импульсов, размаха пилообразного напряжения и др. Кроме того, в условиях промышленного производства необходимы высокая скорость сборки соответствующих схем измерения и подключения измерителей, обеспечение разбраковки по нескольким группам, документирование результатов испытаний и многое другое.
Для этого был разработан и изготовлен автоматизированный тестер АТИШИМК-М, представляющий собой микропроцессорную систему из управляющей ЭВМ и нескольких встроенных микроконтроллеров. В качестве управляющей ЭВМ использован персональный компьютер. Однокристальные микроконтроллеры встроены в программируемые источники напряжений и токов, а также в каждый тест-адаптер.Тестер имеет двухуровневую систему программного управления. Верхний уровень образован ЭВМ, а нижний – микроконтроллерами.
Под управлением ЭВМ в тестере осуществляется сборка соответствующих схем для измерения различных параметров, подключение необходимых источников питания и измерителей, сравнение измеренных параметров с заданными значениями, разбраковка испытуемых микросхем, обрабатываются и документируются результаты испытаний. 
Структурная схема тестера представлена на рис.2.
В состав тестера входят основной блок, сменные тест-адаптеры и контактирующие устройства. Рабочий режим тестера обеспечивается подключением к основному блоку внешней ЭВМ, одного из тест-адаптеров и контактирующего устройства (при разбраковке отдельных ИС в корпусах). Тестер обеспечивает автоматизированные измерения параметров интегральных схем (ИС) и разбраковку их в следующих вариантах: отдельные ИС в корпусах; пластины ИС на многозондовой установке (МЗУ); ИС в корпусах на сортировщике.
Конструктивно основной блок тестера выполнен в виде комплектного настольного устройства и содержит 10 функциональных модулей:
- U1 – преобразователь интерфейса USB2.0/RS485(IC);
- U2, U3, U4 – вторичные источники постоянного напряжения (+5, +12, +24, +9,        –9 В);
- U5 – измеритель постоянного напряжения и тока;
- U6, U7, U9, U10– группа программируемых источников постоянного напряжения (UIN1, UIN2, ULV с общим минусовым выводом (UINLV); UKL, UCC, UKP); U8 – программируемый источник тока J.
С целью большей универсальности тестера модули выполнены в виде съемных плат, закрепляемых в крейте (корзине).
Тест-адаптеры кроме программируемых коммутационных устройств и формирователей логических и импульсных сигналов содержат встроенные специализированные измерители и измерительные преобразователи: измеритель временных интервалов, измеритель размаха переменного (в том числе пилообразного) напряжения, измеритель входного напряжения смещения операционных усилителей, измеритель входных токов операционных усилителей, измеритель коэффициента усиления операционных усилителей по напряжению, измеритель коэффициента ослабления синфазного напряжения операционных усилителей, измеритель коэффициента ослабления напряжения питания операционных усилителей, измеритель частоты единичного усиления операционных усилителей, измеритель скорости нарастания выходного напряжения операционных усилителей.
Особую сложность вызывает измерение длительности фронтов одиночных импульсов в диапазоне от 10 нс с разрешением до 2 нс. Для измерения очень малых временных интервалов изготовлен измеритель на основе микросхемы FPGA семейства «CycloneII» фирмы «ALTERA». Формируя несколько тактовых сигналов, сдвинутых по фазе на заданную величину, и используя встроенный умножитель частоты PLL с одновременным измерением длительности четырьмя счетчиками, удалось путем усреднения обеспечить измерение длительности фронтов одиночных импульсов в диапазоне от 10 нс с разрешением до 1 нс.
Управляющая ЭВМ и модули тестера образуют локальную сеть. Взаимодействие между управляющей ЭВМ и модулями тестера в понятиях модели открытых систем ISOOSI реализуется на физическом, канальном и прикладном уровнях. Физический уровень реализован на базе интерфейса стандарта RS-485. Сигналы интерфейса формируются микросхемами MAX481 для модулей без гальванической развязки и микросхемами ADM2483BRWZ для модулей с гальванической развязкой. Обмен происходит в режиме «запрос–ответ» с одним ведущим – управляющей ЭВМ. Для устранений коллизий, возможных при сбоях контроллера, предусмотрен таймаут – критическое время, в течение которого линия связи может быть занята на передачу отдельным контроллером. Передача осуществляется побайтно, байты формируются модулями UART контроллеров и содержат бит четности.
Сигналы интерфейса управляющей ЭВМ формируются из гальванически развязанного сигнала интерфейса USB микросхемой FT232RL и формирователем MAX481.
На канальном уровне управляющая ЭВМ формирует пакет данных, содержащий следующие поля: ПА – преамбула, код 0xAA; АДМ – адрес модуля; КК – код команды; ДЛ – длина пакета данных; ДАННЫЕ – параметры команды; КС – контрольная сумма пакета CRC16. Ответ контроллера состоит из кода принятой команды и данных в зависимости от принятой команды.
На прикладном уровне сетевого взаимодействия выполняется система команд управления модулями. Команды разбиты на три группы: широковещательные, общие, специальные.
Широковещательные команды адресуются всем модулям и не требуют ответа от модулей (команда «comReset» – «СБРОС»).   
Общие команды выполняются контроллерами всех модулей и служат для отладки и чтения параметров модуля.
Специальные командызависят от назначения модуля.
Алгоритм функционирования управляющих программ контроллеров представлен на рис. 3.
Прием пакета с командой от управляющей ЭВМ выполняется по прерыванию от UART. Программа обработки прерывания общая для всех модулей. Для управления источниками в модулях используется микросхема ЦАП DAC7611. Для измерения в модулях используется микросхема АЦП ADS1110 с последовательным интерфейсом I2C.
Программы управляющей ЭВМ состоят из трех основных модулей: программа тестирования и настройки модулей тестера testmod.exe (рис. 4); программа – редактор программ тестирования с функцией отладки atipwm.exe; рабочая программа тестирования – в составе atipwm.exe.
После запуска программы testmod.exe автоматически выполняется поиск модулей тестера. Состав тестера считывается из файла конфигурации tester.ini, содержащего, в частности, список подключенных модулей и имя порта связи. Если модуль включен в конфигурацию тестера, в основном окне программы появляются окна состояния модуля.
В режиме управления выполняется обмен со всеми модулями с периодом 50 мс, если установлен флажок «Выполнять». При однократном выполнении флажок после обмена снимается. Режим выполнения может задаваться индивидуально для каждого модуля при установленном переключателе «Выбор модуля» или для всех модулей одновременно переключателями «Все однократно», «Все непрерывно», «Все выполнять». В окне управления тест-адаптером имеется возможность запомнить состояния реле, которые сохраняются также в файле конфигурации. Управление памятью реле осуществляется кнопками «Удалить», «Установить», «Запомнить».
Для тестирования аппаратуры модулей в программе предусмотрен режим прямого управления, который вызывается из пункта меню «Модули/Прямое управление».
Для загрузки кодов в конфигурационную память FPGA предусмотрен режим, вызываемый из пункта меню «Модули/Загрузка FPGA». В окне загрузки по кнопке «Файл» задается имя файла кодов конфигурации, по кнопкам «Запись в EEPROM» и «ЗАГРУЗКА» данные из файла записываются в EEPROM и выдается команда конфигурирования, по кнопке «Загрузка из EEPROM» выдается команда конфигурирования.
Программа редактирования тестовых программ имеет три режима: режим редактирования, режим отладки, рабочий режим.
Для обеспечения высокой точности измерений параметров ШИМ-контроллеров предусматривается плановая калибровка источников напряжения, тока и соответствующих измерителей.
Изготовленный тестер существенно повысил производительность труда. При испытании микросхем на МЗУ время определения всех параметров одной микросхемы ШИМ-контроллера составляет несколько секунд. За это время подключаются источники питания и соответствующие измерители, собираются более десятка схем для измерения, измеряются и сравниваются с эталонными более двух десятков величин. Не намного больше время испытаний отдельных микросхем в корпусах и на сортировщике при разбраковке по группам.
 
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
 
1. Малышева, И.А. Технология производства интегральных микросхем / И.А Малышева.– М.: Радио и связь, 1991.–240с.

Вход в систему
Запомнить меня